Verfasste Forenbeiträge

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    Hallo Flo_House,

    ich finde auch, dass der Titel unglücklich formuliert ist. Man kann mit einer FMEA nicht die Leistungsfähigkeit eines Lieferanten bewerten. Das ist dafür das falsche Tool.

    Aber ich könnte mir folgende Vorgehensweise vorstellen:

    1.) Mittels einer Prozess-FMEA könnte man den Logistikprozess ganzheitlich auf Risiken bzw. Schwachstellen untersuchen.
    Dazu müsstest du ein FMEA-Team zusammenstellen und einen Moderator organisieren. Aus meiner Erfahrung ist ein Moderator zwingend erforderlich. Mit dem Moderator solltest die Vorgehensweise vorher abstimmen.
    IM FMEA-Team sollte/muss aus jedem am Logistikprozess beteiligten Bereich ein erfahrener Mitarbeiter dabeisein.

    2.) Die FMEA wird dir Prozessschritte mit unterschiedlichem Risikopotenzial liefern.

    3.) Aus den Ergebnissen kannst du z.B. eine Checkliste erstellen und die einzelnen Punkte je nach Risikopotential priorisieren.

    4.)Mit der Checkliste hast du nun ein Tool in der Hand, mit dem du z.B. bei neuen Lieferanten abklopfen kannst (z.B. in Form eines Audits), wie sie mit solchen Risiken umgehen.
    Und du kannst bei bestehenden Lieferanten prüfen, ob die erfassten Risiken schon mal aufgetreten sind und wie der Lieferant damit umgegangen ist.

    5.) Jetzt zu den Punkten noch Kennzahlen definieren und du kannst die Leistungsfähigkeit deiner Lieferanten bewerten und vergleichen.

    6.) Das ganze mit 2,3, oder 4 Lieferanten durchziehen

    7.) Dann das Thema noch ein wenig ausschmücken (wie organisiert man eine FMEA, Beschreibung des Logistikprozesses,….., Darstellung der Ergebnis aus den Lieferantenbewertungen) und fertig ist die Diplomarbeit.

    Gruß

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    als Antwort auf: EDAG #49990

    Hallo qs-man,

    EDAG kenne ich als einen Zulieferer der Automobilindustrie. Eine Kernkompetenz liegt in Entwicklung (von Fahtzeugmodulen bzw. kopl. Fahrzeugen) und im Anlagenbau.

    Was suchst du genau?

    Gruß

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    Hallo schulte3,

    es ist immer schwierig, auf Fragen zu antworten, bei denen Hintergrundiformationen fehlen und viele Abkürzungen benutzt werden. Ich versuche, es zu verstehen:

    Die Steckerverbindung ist als „Signifikantes Merkmal“ (SC – significant characteristic) identifiziert wurden. Das ist erstmal i.O. und es ist völlig egal, um was für eine Art von Merkmal es sich handelt.

    R&D ist eure Entwicklung?!?!?
    Warum vergibt die Entwicklung ein SC? Diese Vorgehensweise verstehe ich nicht.
    Ich würde erwarten, dass eine Design FMEA durchgeführt wird. In dem FMEA Team sitzt nicht nur die Entwicklung, sondern auch andere Fachabteilungen. So könntest/solltest du auch in diesem Team vertreten sein.
    Nun kann es sein, dass das Team die Steckerverbindung als SC identifiziert. Dann sollten in der FMEA aber auch entsprechende Maßnahmen definiert sein. Z.B. das Design des Produktes optimieren (also die Entwicklung in die Pflicht nehmen) oder erhöhter Prüfaufwand.

    Gruß

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    Hallo Tinu,

    Quantitative Merkmale sind mess- oder zählbar.
    Zu den quantitativen Merkmalen gehören die „Stetigen Merkmale“, deren Ausprägungen überabzählbar sind (wie Herstellmaße und Funktionsmaße), und die „Diskreten Merkmale“, deren Ausprägungen abzählbar sind (wie die Augenzahl eines Würfels).

    Qualitative Merkmale sind beobachtbar.
    Zu den qualitativen Merkmalen gehören die „Ordinal-Merkmale“, die Information über eine Rangfolge zwischen den Ausprägungen geben, und die Nominal-Merkmale, die einfach Ausprägungen ohne direkten Zusammenhang kennzeichnen (z.B. die Oberfläche hat einen Kratzer, eine Beule und eine Delle).
    Gruß

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    als Antwort auf: pp, ppk, cp und cpk #49494

    Hallo Hosenbaum,

    Cm und Cmk
    Cm und Cmk sind Indizes für die Maschinenfähigkeitsuntersuchung (MFU). Die Maschinenfähigkeitsuntersuchung (MFU) ist eine Kurzzeitfähigkeitsuntersuchung, deren Ziel es ausschließlich ist, maschinenbedingte Einflüsse auf den Fertigungsprozess zu ermitteln. Andere wesentliche Einflussgrößen auf den Fertigungsprozess sollen ausgeschlossen werden, damit das Ergebnis nicht verfälscht wird. Die MFU wird in der Regel beim Neuerwerb beim Lieferanten und/oder bei der Inbetriebnahme beim Kunden angewandt. Dabei werden mindesten 50 Teile in Folge gefertigt.

    Cp und Cpk
    Cp und Cpk sind Indizes für die Prozessfähigkeitsuntersuchung (PFU). Die Prozessfähigkeitsuntersuchung (PFU) ist eine Langzeitfähigkeitsuntersuchungen, die unter den endgültigen Serienbedingungen durchgeführt wird. Im Laufe des Untersuchungszeitraumes werden alle wesentlichen Einflussgrößen auf den Fertigungsprozess betrachtet. Die wesentlichen Einflussgrößen werden auch unter dem Begriff 5M zusammengefasst. Damit sind der Mensch, die Maschine, die Methode, das Material und die Mitwelt (Umgebungseinflüsse) gemeint.
    Der Untersuchungszeitraum erstreckt sich über mehrere Schichten,Tage, Wochen. Der Stichprobenumfang ist wesentlich höher als bei der MFU.

    Pp und Ppk sind Indizes für eine vorläufige Prozessfähigkeitsuntersuchung, die wie die PFU unter Serienbedingungen durchgeführt wird. Zeitraum und Stichprobenumfänge sind geringer als bei der PFU. In der Regel werden 25 Stichproben (Stichprobenumfang n = 5) genommen. Die vorläufige PFU wird vor der PFU durchgeführt, um eine Prognose über das Langzeitverhalten zu bekommen. Ein Grund für eine PFU kann auch sein, dass die Stückzahlen während des Serienanlaufs noch zu gering sind.

    Cm, Pp, Cp: diese Indizes werden auch als Streuungsindizes bezeichnet, da hier nur die Streuung der Messwerte berücksichtigt wird.
    Dabei wird der Vertrauensbereich von 99,73% der Messwerte (bei Normalverteilung entspricht dies 6s)ins Verhältnis zur Toleranz gesetzt. (Die Formel ist bei allen gleich).

    Cmk, Ppk, Cpk: diese Indizes werden auch als Niveauindizes bezeichnet, da hier zusätzlich die Lage des Mittelwerts der Messwerte zum Sollwert berücksichtigt wird. (Die Formel ist bei allen gleich).

    Gruß

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    Hallo Stefan,

    ich habe gerade einen Artikel in die QZ 9/2007 auf Seite 20 „Fehlerverhütung in der Entwicklung spart Kosten in der Produktion“ gelesen. Ist vielleicht interessant für dich. Die Überschrift deutet zwar nicht auf epochale Erkenntnisse hin. Der Ansatz, der dort beschrieben wird, ist aber recht interessant.

    Uhu hat recht – der Eindruck ist wichtig(u.a. für den Prof.):
    die Diplomarbeit logisch strukturieren, eindeutig und möglichst fehlerfrei formulieren.
    Also: Du bist Diplomand!

    Gruß

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    als Antwort auf: Regressionsanalyse #48832

    Habe mitgelesen! Auch wenn ich irgendwann nicht mehr folgen konnte, habe ich doch mit Spannung auf TBs Heureka gewartet.

    Grüße

    QM-Planer

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    als Antwort auf: Messaufgabe #48019

    Hallo Bernd,

    der zweite Summand (0,3*L*10^(-6)µm) gibt Auskunft über die längenabhängige MU. Wenn ich L in mm einsetze, wie es üblich ist, dann wäre die längenabhängige MU für deine Messaufgabe 0,000027 µm. Das ergibt keinen Sinn.
    Wenn ich L in µm eintrage, ergibt sich für die längenabhängige MU 0,027 µm.
    Nach den üblichen Angaben (siehe auch VDI/VDE 2617 ) hätte ich aber 0,27 µm erwartet.

    Ich will nicht sagen, dass die Angabe des Dienstleisters falsch ist. Ich kann die Angabe aber nicht logisch nachvollziehen. Und das macht mich skeptisch.

    Ich würde beim Hersteller der Maschine (Zeiss, DEA, Wenzel,…) die MU-Werte für U1 ud U3 nachfragen.

    Ist der konische Zylinder eigentlich ein Produkt, das ihr bezieht, oder ein Kalibrierkörper für die Maschine?

    Gruß

    QM-Planer

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    als Antwort auf: Messaufgabe #47997

    Hallo Barbara,

    seh ich auch so! Zuerst stelle ich mir die Frage, ob das Messsystem für die Messaufgabe geeignet ist bzw. überprüfe das.
    Das Einrichten von Koordinatenmessmaschinen ist sehr aufwendig. Im Prinzip wird über das gesamte Messvolumen ein Raster gelegt, das z.B. mittels Laserinterferometer eingemessen wird. Ältere oder manuelle Maschinen werden mechanisch justiert. Bei CNC Maschinen werden die systematischen Fehler an jedem Gitterpunkt rechnerisch korrigiert (CAA-Feld).
    Wenn die Maschine eingerichtet ist, werden die Kalibrierungen in der Regel mit Endmaßen durchgeführt – verschiedene Parallelendmaße oder Stufenendnmaß. Es werden Wiederholmessungen an verschiedenen Positionen im Raum durchgeführt.

    Zur MU:
    jo, die Formel kann man umstellen.
    L wir normalerweise in mm eingetragen. Dann kommt bei der Formel aber Nonsense heraus, egal wie man sie umstellt.
    Auch wenn man L in µm einträgt fehlt noch eine 10er Potenz.

    Richtlinien zur Genauigkeit von
    Koordinatenmessmaschinen findet man in VDI/VDE 2617.

    QM-Planer
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    als Antwort auf: Messaufgabe #47967

    Hallo derBernd,

    ich wäre erstmal skeptisch, das liegt irgendwie in unserer Natur, da mir zu viele Informationen fehlen:

    1.) Die Angabe der Messunsicherheit (MU):
    Es fehlt die Angabe, um welche MU es sich handelt – U1, U2 oder U3. Das ist aber sehr wichtig. U1 ist die eindimensionale MU, U3 ist die dreidimensionale MU. Du brauchst auf jeden Fall die Angabe für U3.
    Die Formel für die MU ist etwas unüblich, da komme ich auch mit den Einheiten nicht klar.
    Übliche Formeln sind (Werte als Beispiel):
    U1=(2,5 + L/400)µm und
    U3=(3,0 + L/350)µm
    wobei L in mm eingetragen wird (@Barbara: L ist die Länge).

    2.) Angaben zum Messraum:
    War der Messraum auf exakt 20°C klimatisiert? Ist die Klimatisierung laminar?
    Das sind absolute Hightech-Bedingungen, die für deine Messaufgabe aber angebracht erscheinen.
    Wenn es sich um einen normalen Lieferanten handelt, ist dessen Messraum höchstens turbulent klimatisiert und weicht von 20°C wahrscheinlich ab.
    Als Richtwert kann pro 0,1°C Abweichung von 20°C eine Erhöhung der MU um 1µm angenommen werden. Das bedeutet, dass bei 1°C Temperaturabweichung deine Toleranz bereits ausgeschöpft ist.

    3.) Die Messvorbereitung
    Der Prüfling (konischer Zylinder) muss mindestens 24Std (besser 48 Sunden) vor der Messaufgabe im Messraum sein, damit auch er eine Temperatur von 20°C beim Messen hat.

    4.) Messstrategie:
    3 voneinander lienar unabhängige Punkte im Raum sind das Minimum um einen Kreis zu brechnen. Erst beim 4. Punkt wird eine Abweichung vom Nennkreis sichtbar. Je mehr Punkte man also misst, desto genauer ist das Ergebnis.
    Welches Tastsystem wurde verwendet? Es gibt schaltende und messende Systeme. Für diese Aufgabe wäre ein messendes Tastsystem vielleicht vorzuziehen.

    Ich hoffe, dass hilft dir weiter!

    Gruss

    QM-Planer

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    als Antwort auf: Wieder einmal Cpk #47311

    Hallo QSMieze,

    habt ihr die Messwerte im 1/100stel-Bereich gemessen und war das Messmittel dafür geeignet? Das ist aus deiner Angabe nicht ersichtlich (3,5 – 3,6). Hier könnte ein Problem bzw. eine Ursache liegen.

    Wenn du eine Normalverteilung angenommen hast, dann müßte sich nach deinen Werten ein Cp = 1,00 ergeben. Ich kann die Ergebnisse nich ganz nachvollziehen.

    Cp<Cpk: du hast scheinbar mit QS-Stat gerechnet. Das Thema hatten wir schon einige Male. Ein echtes Trauerspiel, wir müssen aber scheinbar damit leben. Und es wir für dich wohl auch von Vorteil sein.

    Gruß

    QM Planer

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    Hallo IsoMan,

    genau das ist auch meine Erfahrung!

    Hallo Rossy,

    das Problem ist dabei, dass es diesen Mangel an Akzeptanz scheinbar nur in diesem Forum bzw. bei sehr wenigen gibt. Die Masse ist leider der Software hörig!

    QM-Planer

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    Hallo Rossy,

    natürlich! Form- und Lagetoleranzen können nicht negativ sein! Das ist unser täglich Brot. Rundlauf kann somit auch nicht negativ sein und hat die natürliche untere Grenze „0“. Also gehen wir erstmal davon aus, dass die Merkmalsausprägungen 1. oder 2. Art betragsverteilt sind. Das bedeutet aber nicht automatisch, dass die Merkmalsausprägungen eines Rundlaufs nicht normalverteilt sein können.
    Das war aber gar nicht das Anliegen dieses Threads. Sondern die Aussage, dass Cmk größer Cm ist (siehe Kommentar von QDAS). Das steckt nämlich so in vielen Köpfen drin und irgendwann hat man keine Lust mehr zu diskutieren.

    An dieser Stellen ein dickes Dankeschön an Barbara – deine Lust an Statistik scheint wirklich unerschöpflich. Das ist auch ein Grund, warum ich hier poste. Hier gibt es viele Gleichgesinnte.

    zurück zu QDAS:
    Ich bin der Meinung, das hier ein Fehler im Verfahren/ Formeln von QS-Stat ist. Deswegen die erneute Diskussion – und der Software nicht blind vertrauen!
    Für mich wäre es eigentlich viel leichter es hinzunehmen, dass Cmk>Cm sein kann. Dadurch haben ich nämlich weniger Probleme bei Abnahmen.
    Aber die Formeln mal außen vorgelassen entbehrt es in der Praxis jeglicher Logik. Wir betrachten bei der Fähigkeitsuntersuchung zwei Prozessparameter.
    Das sind die Streuung und die Abweichung des Mittelwert zum Nennwert(Taguchi’s Loss Function). Wie kann den ein Fähigkeitswert besser werden, wenn zu der Prozeßstreuung noch eine Abweichung von der Nennlage hinzukommt?

    Würde mich freuen, wenn die Diskussion weiter gehen und vielleicht Früchte tragen würde.
    Wie wollen wir künftig mit dem Thema umgehen?
    Einfach akzeptieren oder hier mal einen richten Pflock in die Erde hauen?

    Hallo QM Michael,
    nicht schlecht das mit der Lebenszeit, muß ich mir merken! Bei „Nicht nur rechnen“ stimme ich dir 100%ig zu. Deswegen habe ich das Thema nochmals angesprochen. Ansonsten hätte ich die Auswertung einfach zu den Akten gelegt.

    Liebe Grüße

    QM-Planer

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    Hallo Frank,

    ich würde das Angebot von IsoMan annehmen. Bei HC Starck in Goslar sitzt das Know How.
    Ich habe dort vor 20 Jahren ein Praktikum gemacht.
    Ich versuche mal, ein paar Infos zu bekommen.

    http://www.hcstarck.de/index.php?page_id=61

    Gruß

    QM-Planer

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    als Antwort auf: Cpk gleich/kleiner Cp #45825

    Hallo mibo,

    anhand der Formeln einfach zu erklären.
    Bei Cp betrachtet man den gesamten Toleranzbereich T (To-Tu) bezogen auf 6s (Normalverteilung vorausgesetzt).
    Bei Cpk werden die beiden Bereiche zwischen den Toleranzgrenzen und dem Mittelwert betrachtet (To-Xquer und Xquer-Tu). Der kleinere wird für die Berechnung von Cpk bezogen auf 3s herangezogen. Der Betrachtungsbereich wird quasi halbiert.

    Im Idealfall ist Cpk = Cp, wenn der Mittelwert exakt dem Sollwert ist. Denn dann ist To-Xquer = Xquer-Tu = 0,5(To-Tu)=0,5T.
    Je weiter Xquer in Richtung einer Toleranzgrenze wandert, desto kleiner wird Cpk (Cp ändert sich nicht). Liegt Xquer genau auf einer der Toleranzgrenzen, dann ist Cpk=0. Wndert Xquer außerhalb der Toleranzgrenzen, dann wird der Cpk-Wert negativ (Cp kann nicht negativ werden).

    Gruß

    QM-Planer

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